特点:
测量范围:0~±2,000v 高速应答:3.0msec(1KV阶段输入的时候10%~90%)(注1)<高精度:±0.05%在[FS](注2)高温?高湿度环境下在使用可能小型?轻量注1)探针被测量方面距离1mm的
用途:电子研究开发;曝光体的研究开发;材料考试,射线的研究;电荷积蓄的监视;在IC生产工序的静电的监视;高分子胶卷的带电量测量;无纺布的带电量测量;硅维表面电位测量;打印机表面电位测量
入力范围 |
0~±2,000V |
出力范围 |
入力電压1/100 |
精度 |
出力:±0.05%,+(±2mV)[FS] 表示:±0.1%[FS]+(±1) |
应答時間 |
3.0msec(1KV阶段输入的时候10%~90%) |
使用条件 |
温度:0~40℃ 湿度:~90%RH不結露 |
定格 |
100V AC,±10%,50/60Hz |
寸法 |
22.0cmW×6.4cmH×27.0cmD |
重量 |
2.0kg |
附属部件:
555P-4本体部5.53mm□×49.8mmL 開口部1.17mmφ
555P-1 本体部5.53mm□×49.8mmL 開口部2.58mmφ
6000B-15C本体部10.2mm×10.4mm×64mmL 開口1.32mmφ※0.79mmφ
6000B-16本体部10.5mm×10.4mm×73.9mmL 開口部1.32mmφ※0.79mmφ
6000B-7C头部11.4mmφ×2.2mmL 身体部9.5mmφ×64mmL 開口部1.32mmφ※0.79mmφ也有类型
6000B-8头部10mm×10mm×10mmL身体部9.5mmφ×64mmL 開口部1.32mmφ※0.79mmφ也有类型
特点:测量范围:0~±2,000v 高速应答:3.0msec(1KV阶段输入的时候10%~90%)(注1)<高精度:±0.05%在[FS](注2)高温?高湿度环境下在使用可能小型?轻量注1)探针被测量方面距离1mm的
用途:电子研究开发;曝光体的研究开发;材料考试,射线的研究;电荷积蓄的监视;在IC生产工序的静电的监视;高分子胶卷的带电量测量;无纺布的带电量测量;硅维表面电位测量;打印机表面电位测量
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